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《功能材料》 2000年04期
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纳米V_2O_5的晶体缺陷与导电性能研究

潘登金,王大志,刘皖育,俞文海   开通知网号
【摘要】： 用溶胶一凝胶法制备纳米Ｖ２Ｏ５粉体，利用ＩＲ、ＥＳＲ结构分析手段研究晶体缺陷，并用阻抗谱研究它的导电性能。阻抗谱表明，在较低退火温度下得到的纳米Ｖ２Ｏ５粉体（平均粒径为５． ０ｎｍ）表现出超常的导电性能，其电导率高于其它样品 二个数量级。ＩＲ、ＥＳＲ...

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