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《电子测试》 2022年10期
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高端芯片先进封装过程中视觉检测功能的强化研究

洪海敏   刘飞飞   王道远   谢晶晶   开通知网号
【摘要】： 本文以高端芯片在先进封装过程中的视觉检测功能为研究对象，在阐述高端芯片的先进封装过程及其重要作用的基础上，探究高端芯片的视觉检测功能，结合高端芯片的视觉检测功能在现代化生产发展的需求，对视觉检测功能在实际生产生活中的作用提出更高的要求，旨在为设备生产...

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